[发明专利]用于断层融合数据处理和特征检测的快速和低存储器占用卷积神经网络在审
申请号: | 202310072882.1 | 申请日: | 2023-02-07 |
公开(公告)号: | CN116611474A | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
发明(设计)人: | 西尔万·伯纳德;文森特·比斯马思 | 申请(专利权)人: | 通用电气精准医疗有限责任公司 |
主分类号: | G06N3/0464 | 分类号: | G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/084;G06V10/82 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 师玮;王小东 |
地址: | 美国威*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种卷积神经网络(CNN)(202),在用于分析由X射线成像系统(100)提供的图像(208)的自动特征和/或异常检测系统(204)中采用该卷积神经网络。自动检测系统(204)以减少所需的全分辨率CNN卷积层(212)的数量的方式操作,以便加快检测系统(204)的网络推断和学习过程。为此,检测系统(204)利用断层摄影数据(206)的更紧凑表示作为输入,以缓解现有技术X射线系统中的CNN存储器占用空间和计算时间问题。 | ||
搜索关键词: | 用于 断层 融合 数据处理 特征 检测 快速 存储器 占用 卷积 神经网络 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气精准医疗有限责任公司,未经通用电气精准医疗有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310072882.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:印刷装置以及方法
- 下一篇:判定装置、判定方法以及程序