[发明专利]一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置在审
申请号: | 202310066710.3 | 申请日: | 2023-02-06 |
公开(公告)号: | CN116106119A | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 王鹏飞;武扬帆;王德雅;卜乐虎;田杰;徐松林 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/06;G01N3/04;G01N3/02 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 李晓莉 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置,包括:测试机构、控制机构、观测机构;测试机构包括力传感器(1)、试样台(2)、微型线性位移平台(3)、压头(4)、盖板(5)、单轴位移平台(6)、双轴位移平台(7)、组合夹头(13);控制机构包括微型线性位移平台控制盒(8)、电脑(9);观测机构包括显微镜(10)、支架(11)、底座(12)。所述装置设计原理简单,易于实现;微型线性位移平台位移精度高,运动方式可编程控制;可用于不同尺寸试样的多种力学性能测试。该装置配备有显微镜,可以在实验的同时实时观测试样的变形、破坏过程。结构简单,易于搭建,轻质便携,使用和维修保养方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 显微镜 原位 力学性能 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学技术大学,未经中国科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310066710.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于眼动的认知评估方法、装置、设备及介质
- 下一篇:一种小流量气体采样泵