[发明专利]一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置在审
申请号: | 202310066710.3 | 申请日: | 2023-02-06 |
公开(公告)号: | CN116106119A | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 王鹏飞;武扬帆;王德雅;卜乐虎;田杰;徐松林 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/06;G01N3/04;G01N3/02 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 李晓莉 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 显微镜 原位 力学性能 测试 装置 | ||
本发明涉及一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置,包括:测试机构、控制机构、观测机构;测试机构包括力传感器(1)、试样台(2)、微型线性位移平台(3)、压头(4)、盖板(5)、单轴位移平台(6)、双轴位移平台(7)、组合夹头(13);控制机构包括微型线性位移平台控制盒(8)、电脑(9);观测机构包括显微镜(10)、支架(11)、底座(12)。所述装置设计原理简单,易于实现;微型线性位移平台位移精度高,运动方式可编程控制;可用于不同尺寸试样的多种力学性能测试。该装置配备有显微镜,可以在实验的同时实时观测试样的变形、破坏过程。结构简单,易于搭建,轻质便携,使用和维修保养方便。
技术领域
本发明属于原位力学性能测试设备技术领域,具体涉及一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置。
背景技术
随着科技的进步与发展,工程应用对材料的力学性能需求逐步提高。尤其是在深海、深地、深空探测等领域,材料的力学性能与可靠性已成为制约其发展的主要因素之一。传统的材料力学性能测试手段主要依赖于万能试验机进行简单的准静态实验,不能实时观测材料的变形失效与微结构演化过程。而研究材料的变形失效过程以及微结构演化机理,对材料的优化设计,提升材料的可靠性具有重要意义。此外,材料在工程应用中通常要面临循环加卸载、长时间加载等复杂工况,简单的准静态拉伸难以对材料的疲劳极限、粘性等性能做出合理的评估。开发具有多种实验功能的原位力学性能测试设备是能否推进这些研究的关键。
常规材料试验机的试样尺寸通常较大,难以对材料的微观变形过程进行较为全面观测。此外常规的材料试验机的精度通常较低,难以满足微米级样品的高精度要求。例如,微米级核-壳结构的微胶囊被广泛应用于复合材料的改性,微胶囊的力学性能及失效破坏机制又会影响复合材料的力学性能。新型的碳纳米管纤维因其卓越的力学性能可以在防护结构中加以应用,然而其单丝的尺寸仅在微米量级,难以通过传统的静态力学试验机来测试其力学性能。因此发展微纳米尺寸下的原位力学设备的需求极为迫切。
发明内容
本发明的目的是为了在对不同尺度的材料进行力学测试的同时,对材料的破坏过程进行原位观测,提供了一种用于材料力学性能测试的机械装置,并具有原位实时观测的能力。本发明基于材料的准静态力学性能测试技术,结合显微镜加以设计研制,可以测量尺寸从微米到毫米级别的样品的力学性能。其特点在于:压头与组合夹头可以替换,既可用于压缩实验,也可以用于拉伸实验;压头的尺寸可以选择,可对微米级到毫米级尺寸的材料进行力学性能测试;微型线性位移平台位移精度高,满足不同尺寸、不同应变率加载下高精度位移的需求;微型线性位移平台可二次开发编程控制,可以进行不同应变率的拉压加载、循环加载、应力松弛等多种实验;力传感器的精度和采样频率高,可以准确快速地采集到实验中的力信号;显微镜的观测能力强,可以清晰地观测到材料的结构演化及破坏过程;装置结构简单,易于维修保养。
本发明使用了位移精度较高的微型线性位移平台,设计了原位力学性能测试设备。与此同时,通过显微镜,可以原位观测试样的破坏过程。具有结构简单、易于搭建、轻质便携等优点。基于此,本发明实现了对微纳米材料在力学加载过程的原位观测。
本发明为了实现上述的发明目的,采用如下的技术方案:
一种用于显微镜下原位力学性能测试的装置,所述用于显微镜下原位力学性能测试的装置包括测试机构、控制机构、观测机构;
所述测试机构包括力传感器(1)、试样台(2)、微型线性位移平台(3)、压头(4)、盖板(5)、单轴位移平台(6)、双轴位移平台(7);
试样台(2)安装在力传感器(1)的上方;盖板(5)安装在微型线性位移平台(3)的上方;压头(4)固定安装在微型线性位移平台(3)与盖板(5)之间;微型线性位移平台(3)安装在单轴位移平台(6)上;压头(4)可以随单轴位移平台(6)左右移动;
控制机构包括微型线性位移平台控制盒(8)、电脑(9)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学技术大学,未经中国科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310066710.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于眼动的认知评估方法、装置、设备及介质
- 下一篇:一种小流量气体采样泵