[发明专利]芯片检测系统及可编辑芯片检测系统有效
| 申请号： | 202310045789.1 | 申请日： | 2023-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN115792580B | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 王洲;唐晓楠;孙烨磊;李慧清;杨雷明;杨威;王春祥;邰阳;宋雨江;巴宁;岳文;韩亚;徐彦卿 | 申请（专利权）人： | 北京怀美科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/22;G06F9/4401;G06F16/903 |
| 代理公司： | 北京汇鑫君达知识产权代理有限公司 11769 | 代理人： | 刘湘菲 |
| 地址： | 101499 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片检测系统及可编辑芯片检测系统，设置在电路板上的数据处理模块、存储模块和比对模块；数据处理模块预设有调度指令集合，存储模块用于存储数据处理模块传输的检测数据，比对模块预设有验证数据；数据处理模块将调度指令下发到存储模块，存储模块将调度指令对应的检测数据发送到待测芯片，比对模块将待测芯片的输出数据与预设的验证数据比对。将数据处理模块、存储模块和比对模块都设置在电路板上，避免了因为外部接口传输速率低及线材传输速率低，而影响芯片的检测效率，传输效率得到很大提升。存储模块根据不同的调度指令调度对应的检测数据到待测芯片中，对检测数据的调度更加快速。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 系统 编辑 | ||
【主权项】：
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