[发明专利]校验处理器的检测方法、装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202310042637.6 | 申请日： | 2023-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN115831213A | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 刘罗 | 申请（专利权）人： | 南京芯驰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/38 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 周伟 |
| 地址： | 211899 江苏省南京市江北新区研创园团结路*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种校验处理器的检测方法、装置、电子设备，所述方法包括：在存储单元的设定存储区域所存储的数据中注入错误比特位；响应于测试指令，至少读取所述设定存储区域中注入有错误比特位的数据；调用校验处理器，对所述注入有错误比特位的数据进行校验，得到校验数据；将所述校验数据与注入错误比特位之前的数据进行比对，得到比对结果，根据所述比对结果输出所述校验处理器的状态指示信息。本公开提升了存储单元中数据的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 校验 处理器 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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