[发明专利]一种闪存修复的方法及装置在审
申请号: | 202310038695.1 | 申请日: | 2023-01-11 |
公开(公告)号: | CN116013391A | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
发明(设计)人: | 高会阁 | 申请(专利权)人: | 普冉半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 童素珠 |
地址: | 201210 上海市浦东新区申*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种闪存修复方法及装置,方法包括:将预设数据写入芯片中的各个存储单元中,每个存储单元对应一个单元地址;按照顺序依次从若干个所述单元地址中选择一个目标单元地址,并从所述目标单元地址对应的目标存储单元中读取数据;将读取到的数据与所述预设数据进行比较;当读取到的数据与所述预设数据不同时,进入修复模式;所述修复模式包括并行修复模式和单一修复模式;在所述修复模式下,根据所述目标单元地址对所述目标存储单元进行修复。本发明能够同时对损坏的存储单元及其相邻存储进行修复,有利于提高数据的安全性和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 闪存 修复 方法 装置 | ||
【主权项】:
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