[发明专利]刻写一体化谐振腔时光纤光栅参数测量方法和系统有效
| 申请号： | 202310026249.9 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN115901193B | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 陈金宝;李昊;王泽锋;王蒙;武柏屹;李宏业;叶新宇;陈子伦;李智贤 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 段盼姣 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种刻写一体化谐振腔时光纤光栅参数测量方法和系统，由于在正在刻写的光纤光栅与测量系统之间设置标尺光纤光栅，使得在进行高反光纤光栅的刻写时，能够通过测量系统实时获取高反光纤光栅与标尺光纤光栅的第一反射谱，根据第一反射光谱可以在线计算正在刻写的高反光纤光栅的反射率等光谱参数直至高反光纤光栅的光谱参数满足目标参数；当开始进行低反光纤光栅的刻写时实时获取标尺光纤光栅、高反光纤光栅以及正在刻写的低反光纤光栅的第二反射谱。完成刻写的高反光纤光栅可以视为“标尺”与预设的标尺光纤光栅一并作为参考完成低反光纤光栅的光谱参数测量。本发明能够实时并准确测量正在刻写的一体化谐振腔的光谱参数。 | ||
| 搜索关键词： | 刻写 一体化 谐振腔 时光 光栅 参数 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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