[发明专利]一种存储器测试方法、测试系统及存储介质在审
| 申请号： | 202310014603.6 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN116259350A | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 金景秀;陈锌奇;邓育平 | 申请（专利权）人： | 深圳市天源景云科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/44;G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市新虹光知识产权代理事务所(普通合伙) 44499 | 代理人： | 刘菊美 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区沙头*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种存储器测试方法、测试系统及存储介质，涉及存储器测试技术领域，包括：编码生成若干个测试文件；对多个所述测试文件进行随机编码；对每个所述测试文件设定不同的测试阈值；获取实时测试编码；获取实时测试文件；采用实时测试文件对存储器进行测试动作，获得测试反馈数据；判断存储器是否存在特定文件格式故障；获取测试反馈数据集合，并计算获得读写速度测试集合；基于格布拉斯准则法对读写速度测试集合进行更新；根据更新后的读写速度测试集合计算存储器的额定读写速度。本发明的优点在于：可获取存储器对多种格式多种大小的复杂存储情况的应对能力，拓宽了存储器的测试宽度，测试结果可以准确反映存储器的实际读写速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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