[实用新型]一种中间开孔芯片的测试装置

摘要

本申请涉及一种中间开孔芯片的测试装置，其包括：底座，底座表面下凹开有凹槽，凹槽内竖直设有多个支撑轴，支撑轴顶部同轴设有直径小于支撑轴的导向轴；在导向轴外侧壁由下至上依次穿插设有PCB板以及针板，针板用于固定探针，PCB板和针板上中心均开有匹配通槽的避让槽；还包括旋钮，旋钮底部设有可穿过避让槽的调节件，凹槽内设有配合件，配合件上设有倾斜面，旋动旋钮以使得调节件底部沿着倾斜面爬升从而向上挤压固定芯片；底座上铰接设有压盖，压盖上设有用于旋钮通过的通孔，压盖的另一端与底座之间卡扣连接。本申请具有结构简单，使用简便的效果。