[实用新型]一种中间开孔芯片的测试装置

说明书

本申请涉及一种中间开孔芯片的测试装置，其包括：底座，底座表面下凹开有凹槽，凹槽内竖直设有多个支撑轴，支撑轴顶部同轴设有直径小于支撑轴的导向轴；在导向轴外侧壁由下至上依次穿插设有PCB板以及针板，针板用于固定探针，PCB板和针板上中心均开有匹配通槽的避让槽；还包括旋钮，旋钮底部设有可穿过避让槽的调节件，凹槽内设有配合件，配合件上设有倾斜面，旋动旋钮以使得调节件底部沿着倾斜面爬升从而向上挤压固定芯片；底座上铰接设有压盖，压盖上设有用于旋钮通过的通孔，压盖的另一端与底座之间卡扣连接。本申请具有结构简单，使用简便的效果。

技术领域

本申请涉及芯片检测设备的技术领域，尤其是涉及一种中间开孔芯片的测试装置。

背景技术

芯片检测设备是指用于对芯片性能进行检测的装置，目前常用的检测设备为芯片测试插座，例如申请号为CN201610996927.4的中国发明专利申请公开的翻转直落式光学芯片模组测试插座，其方案概括如下，包括底座、翻转的上盖、针板、探针以及浮板；浮板上部开有芯片槽，芯片槽底部具有针头孔；底座底部螺钉连接有PCB板，在检测时，翻转上盖向下压芯片，浮板下移使得探针的两端分别与芯片和PCB板的接触点接触，进而形成导通电路对芯片的性能检测。

参照图5，目前有种主板芯片，其中心开有长条状的通槽并且整体体积较大，利用传统的浮板难以适应芯片的尺寸，并且传统的PCB板需要螺钉连接在底座上导致自身拆装都比较麻烦。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本申请提供一种中间开孔芯片的测试装置，其具有适应性强，结构简单的优点。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种中间开孔芯片的测试装置，其包括：

底座，所述底座表面下凹开有凹槽，所述凹槽内竖直设有多个支撑轴，所述支撑轴顶部同轴设有直径小于支撑轴的导向轴；

在导向轴外侧壁由下至上依次穿插设有PCB板以及针板，针板用于固定探针，所述PCB板和针板上中心均开有匹配通槽的避让槽；

还包括旋钮，所述旋钮底部设有可穿过避让槽的调节件，所述凹槽内设有配合件，所述配合件上设有倾斜面，旋动所述旋钮以使得调节件底部沿着倾斜面爬升从而向上挤压固定芯片；

所述底座上铰接设有压盖，所述压盖上设有用于旋钮通过的通孔，所述压盖的另一端与底座之间卡扣连接。

实现上述技术方案，PCB板、针板以及探针均可以提前安装在多个支撑轴上，在需要测试时，只需要将芯片放在针板顶面，操作压盖卡扣在底座上，然后旋动旋钮使得调节件沿着倾斜面爬升向上挤压固定住芯片即可进行检测过程，PCB板和针板的更换都较为便捷，整体结构也较为简单。

作为本申请的其中一个优选方案，所述调节件设为调节块，所述配合件包括固定在凹槽内的平板，所述平板表面开有截面为V形的调节槽，调节槽的内侧壁即形成所述倾斜面，所述调节块初始状态平行调节槽并置于调节槽内。

实现上述技术方案，旋动调节块则使得调节块转动沿着调节槽的倾斜面向上爬升，最终调节块的底面与平板表面接触，此时调节块表面抵接PCB板并给予PCB板向上的力，完成检测过程。

作为本申请的其中一个优选方案，所述调节块的周侧边缘设有避让倒角。

作为本申请的其中一个优选方案，所述平板螺钉连接在凹槽内。

作为本申请的其中一个优选方案，所述支撑轴外侧面有螺纹并且螺纹连接在凹槽上。

实现上述技术方案，旋动支撑轴可以调节PCB板的高度，从而适应不同厚度芯片的检测过程。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：