[实用新型]一种中间开孔芯片的测试装置

权利要求书

1.一种中间开孔芯片的测试装置，其特征在于，包括：

底座(1)，所述底座(1)表面下凹开有凹槽(11)，所述凹槽(11)内竖直设有多个支撑轴(2)，所述支撑轴(2)顶部同轴设有直径小于支撑轴(2)的导向轴(3)；

在导向轴(3)外侧壁由下至上依次穿插设有PCB板(4)以及针板(5)，针板(5)用于固定探针，所述PCB板(4)和针板(5)上中心均开有匹配通槽的避让槽(6)；

还包括旋钮(7)，所述旋钮(7)底部设有可穿过避让槽(6)的调节件(8)，所述凹槽(11)内设有配合件(9)，所述配合件(9)上设有倾斜面(91)，旋动所述旋钮(7)以使得调节件(8)底部沿着倾斜面(91)爬升从而向上挤压固定芯片；

所述底座(1)上铰接设有压盖(10)，所述压盖(10)上设有用于旋钮(7)通过的通孔(101)，所述压盖(10)的另一端与底座(1)之间卡扣连接。

2.根据权利要求1所述的一种中间开孔芯片的测试装置，其特征在于：所述调节件(8)设为调节块，所述配合件(9)包括固定在凹槽(11)内的平板，所述平板表面开有截面为V形的调节槽，调节槽的内侧壁即形成所述倾斜面(91)，所述调节块初始状态平行调节槽并置于调节槽内。

3.根据权利要求2所述的一种中间开孔芯片的测试装置，其特征在于：所述调节块的周侧边缘设有避让倒角。

4.根据权利要求2所述的一种中间开孔芯片的测试装置，其特征在于：所述平板螺钉连接在凹槽(11)内。

5.根据权利要求1所述的一种中间开孔芯片的测试装置，其特征在于：所述支撑轴(2)外侧面有螺纹并且螺纹连接在凹槽(11)内。