[实用新型]一种用于芯片测试的多工位测试治具

摘要

本实用新型涉及一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台，所述固定台内腔滑动设有移动架，所述固定台内腔底部固定设有移动机构，且移动架底部与移动机构连接，所述移动架内转动设有转轴，所述转轴上固定设有测试底座，所述测试底座上均匀开设有放置槽，所述固定台两侧固定安装有气缸，所述气缸顶端之间固定设有压板，所述压板上均匀开设有通孔，可以让测试底座转动，从而让适合的放置槽处于顶部的位置，可以对不同规格的芯片进行固定测试，提高其实用性，再让移动架带着芯片移动至固定台内后，再通过气缸让压板向下移动，从而进一步将芯片压稳在测试底座上，保证在测试时芯片的稳定性，从而提高其测试的准确性。