[实用新型]一种用于芯片测试的多工位测试治具

权利要求书

1.一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台（1），其特征在于：所述固定台（1）内腔滑动设有移动架（2），所述固定台（1）内腔底部固定设有移动机构，且移动架（2）底部与移动机构连接，所述移动架（2）内转动设有转轴（3），所述转轴（3）上固定设有测试底座（4），所述测试底座（4）上均匀开设有放置槽（5），所述固定台（1）两侧固定安装有气缸（6），所述气缸（6）顶端之间固定设有压板（7），所述压板（7）上均匀开设有通孔（8）。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述移动机构包括丝杆（9），且丝杆（9）一端连接有步进电机（10），所述移动架（2）底部通过移动块（11）与丝杆（9）滑动连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述固定台（1）内壁上固定设有滑轨（12），移动架（2）两侧通过滑条与滑轨（12）连接，且移动架（2）前侧固定设有挡板（13），且挡板（13）上设有观察窗。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述移动架（2）内腔底部固定安装有伺服电机（14），所述伺服电机（14）输出轴与转轴（3）一端均固定设有皮带轮（15），且皮带轮（15）之间通过同步带连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述测试底座（4）截面为正方形，且每一面上的放置槽（5）大小均不相同，所述测试底座（4）表面两端均开设有定位孔（16）。

6.根据权利要求5所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述压板（7）底部固定设有定位杆（17），所述定位孔（16）内腔固定设有缓冲块（18），且缓冲块（18）底部固定设有缓冲弹簧，所述定位杆（17）底端插入定位孔（16）内，所述通孔（8）的位置与放置槽（5）的位置相对应。