[实用新型]一种用于芯片测试的多工位测试治具

说明书

本实用新型涉及一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台，所述固定台内腔滑动设有移动架，所述固定台内腔底部固定设有移动机构，且移动架底部与移动机构连接，所述移动架内转动设有转轴，所述转轴上固定设有测试底座，所述测试底座上均匀开设有放置槽，所述固定台两侧固定安装有气缸，所述气缸顶端之间固定设有压板，所述压板上均匀开设有通孔，可以让测试底座转动，从而让适合的放置槽处于顶部的位置，可以对不同规格的芯片进行固定测试，提高其实用性，再让移动架带着芯片移动至固定台内后，再通过气缸让压板向下移动，从而进一步将芯片压稳在测试底座上，保证在测试时芯片的稳定性，从而提高其测试的准确性。

技术领域

本实用新型涉及一种用于芯片测试的多工位测试治具，属于芯片测试技术领域。

背景技术

芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路；另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，芯片在测试时，需要使用治具进行辅助测试。

专利号为202022552277.9的实用新型提供了一种翻转式芯片检测治具，包括基座、安装板、若干测试载台、压板、升降气缸、翻转气缸和固定板，该实用新型通过产品槽和支撑板之间弹簧的设置，使得产品槽在不工作的情况下处在自然舒张状态，起到保护PIN针的作用；但是这种结构安装板与测试载台都是固定的，而芯片的规格多种多样，对不同型号的芯片进行测试时，需要对放置芯片的载台进行更换，比较费时费力，降低了测试的效率。

实用新型内容

针对相关技术中的问题，本实用新型提出一种用于芯片测试的多工位测试治具，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。

为此，本实用新型采用的具体技术方案如下：

一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台，所述固定台内腔滑动设有移动架，所述固定台内腔底部固定设有移动机构，且移动架底部与移动机构连接，所述移动架内转动设有转轴，所述转轴上固定设有测试底座，所述测试底座上均匀开设有放置槽，所述固定台两侧固定安装有气缸，所述气缸顶端之间固定设有压板，所述压板上均匀开设有通孔。

作为优选，所述移动机构包括丝杆，且丝杆一端连接有步进电机，所述移动架底部通过移动块与丝杆滑动连接。

作为优选，所述固定台内壁上固定设有滑轨，移动架两侧通过滑条与滑轨连接，且移动架前侧固定设有挡板，且挡板上设有观察窗。

作为优选，所述移动架内腔底部固定安装有伺服电机，所述伺服电机输出轴与转轴一端均固定设有皮带轮，且皮带轮之间通过同步带连接。

作为优选，所述测试底座截面为正方形，且每一面上的放置槽大小均不相同，所述测试底座表面两端均开设有定位孔。

作为优选，所述压板底部固定设有定位杆，所述定位孔内腔固定设有缓冲块，且缓冲块底部固定设有缓冲弹簧，所述定位杆底端插入定位孔内，所述通孔的位置与放置槽的位置相对应。

本实用新型的有益效果是：

1、通过设置移动架，在使用时，可以让移动架从固定台内腔移动出来，从而使得测试底座漏出来，方便人们将芯片放在测试底座上，再移动至固定台内进行测试，操作方便；

2、通过设置测试底座，在对不同规格的芯片进行测试，可以在移动架出来后，让测试底座转动，从而让适合的放置槽处于顶部的位置，可以对不同规格的芯片进行固定测试，提高其实用性；

3、通过设置压板，移动架带着芯片移动至固定台内后，再通过气缸让压板向下移动，从而进一步将芯片压稳在测试底座上，保证在测试时芯片的稳定性，从而提高其测试的准确性。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的具体实施方式一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。