[实用新型]一种集成电路封装测试装置有效

专利信息
申请号: 202223137729.2 申请日: 2022-11-25
公开(公告)号: CN218767212U 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 严传滨 申请(专利权)人: 深圳市科纳森电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 北京奥肯律师事务所 11881 代理人: 周桐
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区龙岗街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及集成电路技术领域,且公开了一种集成电路封装测试装置,包括测试平台和安装板,所述测试平台的下端固定连接有底座,所述安装板位于测试平台的上方,所述安装板下端固定连接有连接板,所述安装板的下端位于连接板的边侧固定连接有分隔板。该集成电路封装测试装置,通过多个分隔板和连接板形成的间隔,方便集成电路的插脚放入间隔中,便于对集成电路的定位,同时利用复位弹簧的弹性,对导电压块进行限位,从而集成电路的插脚进入分隔板之间时,导电压块和插脚相互贴合,便于对集成电路的测试,且利用驱动电机带动传动杆旋转,从而带动两个移动块同步移动,方便调整两侧安装板的位置,适配不同的集成电路,提高了实用性。
搜索关键词: 一种 集成电路 封装 测试 装置
【主权项】:
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