[实用新型]一种用于测量色散型光谱成像系统光谱性能的成像装置有效
申请号: | 202222882898.2 | 申请日: | 2022-10-31 |
公开(公告)号: | CN219015468U | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 陈新华;庄小伟;陆伟奇;朱嘉诚;沈为民 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 215137 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种用于测量色散型光谱成像系统光谱性能的成像装置。被测光谱成像系统的狭缝面与双远心中继系统的像面重合,一维小孔阵列靶标安装在双远心中继系统的物面上,靶标基板为非透光,靶标图案为若干个直径相同、在一条直线上等间距排布的透光小孔;激光频率梳光源入射至旋转积分球,旋转积分球的出射光照明一维小孔阵列靶标,面阵探测器安装在被测光谱成像系统的像面处。本实用新型利用安装在被测光谱成像系统像面上的面阵探测器成像,得到用于光谱性能测试的靶标图像结果,用于光谱性能的测量。在成像过程中无需机械扫描,测试速度快;测试功能多,可同时完成多个光谱性能参数的测试;适用范围广,适用于不同型号的光谱成像仪。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 色散 光谱 成像 系统 性能 装置 | ||
【主权项】:
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