[实用新型]一种用于测量色散型光谱成像系统光谱性能的成像装置有效

专利信息
申请号: 202222882898.2 申请日: 2022-10-31
公开(公告)号: CN219015468U 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 陈新华;庄小伟;陆伟奇;朱嘉诚;沈为民 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215137 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种用于测量色散型光谱成像系统光谱性能的成像装置。被测光谱成像系统的狭缝面与双远心中继系统的像面重合,一维小孔阵列靶标安装在双远心中继系统的物面上,靶标基板为非透光,靶标图案为若干个直径相同、在一条直线上等间距排布的透光小孔;激光频率梳光源入射至旋转积分球,旋转积分球的出射光照明一维小孔阵列靶标,面阵探测器安装在被测光谱成像系统的像面处。本实用新型利用安装在被测光谱成像系统像面上的面阵探测器成像,得到用于光谱性能测试的靶标图像结果,用于光谱性能的测量。在成像过程中无需机械扫描,测试速度快;测试功能多,可同时完成多个光谱性能参数的测试;适用范围广,适用于不同型号的光谱成像仪。
搜索关键词: 一种 用于 测量 色散 光谱 成像 系统 性能 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州大学,未经苏州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202222882898.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top