[实用新型]一种集成电路芯片检测装置有效
申请号: | 202222742024.7 | 申请日: | 2022-10-18 |
公开(公告)号: | CN218610453U | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 陶书军 | 申请(专利权)人: | 安徽芯鑫半导体有限公司 |
主分类号: | B07C5/00 | 分类号: | B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36;F16F15/067 |
代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 韩立峰 |
地址: | 243000 安徽省马鞍山市郑*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种集成电路芯片检测装置,包括检测箱,所述检测箱的两端均贯穿设有第一输送机,第一输送机的顶部放置有若干均匀分布的夹持机构,检测箱的内部一端设有检测机构,检测箱的内部另一端设有两个转运机构,检测箱的外部两侧底端均固定有第二输送机,两个第二输送机的一端底部均设置有集料箱;所述转运机构包括开设在检测箱两侧的转运槽,两个转运槽之间贯穿连接有转运座,转运座的底部和两侧均设有开口,转运座的内部固定有移动座;解决了现有技术中,在对芯片进行检测后,需要人工对不合格的芯片进行筛选,增加生产时间,同时对于芯片的检测过程检测头容易与芯片发生碰撞,造成芯片的损伤等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】:
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