[实用新型]一种集成电路芯片检测装置

权利要求书

1.一种集成电路芯片检测装置，包括检测箱(1)，其特征在于，所述检测箱(1)的两端贯穿设有第一输送机(2)，第一输送机(2)的顶部放置有若干均匀分布的夹持机构(3)，检测箱(1)的内部一端设有检测机构(4)，检测箱(1)的内部另一端设有两个转运机构(5)，检测箱(1)的外部两侧底端均固定有第二输送机(6)，两个第二输送机(6)的一端底部均设置有集料箱(7)；

所述转运机构(5)包括开设在检测箱(1)两侧的转运槽(501)，两个转运槽(501)之间贯穿连接有转运座(502)，转运座(502)的底部和两侧均设有开口，转运座(502)的内部固定有移动座(503)，移动座(503)的外表面滑动套设有移动板(504)，移动板(504)的底部固定有负压吸盘(505)，移动座(503)内设有带动移动板(504)移动的驱动组件，检测箱(1)的顶部固定有升降气缸(510)，升降气缸(510)的输出端穿过检测箱(1)且与转运座(502)相固定。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于，所述夹持机构(3)包括夹持座(301)，夹持座(301)放置在第一输送机(2)上，夹持座(301)的顶部设有夹持槽，夹持座(301)的外部两端均固定有夹持气缸(302)，夹持气缸(302)的输出端穿过夹持座(301)且固定有夹持板(303)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于，所述检测机构(4)包括两个对称分布的且与检测箱(1)固定连接的滑杆(401)，两个滑杆(401)的外表面均滑动套设有升降板(402)，两个升降板(402)之间固定有检测座(403)，检测座(403)的底部安装有若干检测头(404)，检测箱(1)的顶部固定有检测气缸(405)，检测气缸(405)的输出端穿过检测箱(1)且固定有推板(406)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于，所述滑杆(401)的外表面套设有缓冲弹簧(407)，滑杆(401)的底端固定有限位板，缓冲弹簧(407)的两端分别与升降板(402)和限位板相固定。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于，所述驱动组件包括与转运座(502)相固定的驱动电机(506)，驱动电机(506)的输出端穿过转运座(502)且固定有主动直齿轮(507)，移动座(503)内转动连接有丝杆(508)，丝杆(508)与移动板(504)螺纹连接，丝杆(508)的一端穿过转运座(502)且固定有从动直齿轮(509)，主动直齿轮(507)与从动直齿轮(509)相啮合。