[实用新型]一种集成电路芯片检测装置

说明书

本实用新型涉及一种集成电路芯片检测装置，包括检测箱，所述检测箱的两端均贯穿设有第一输送机，第一输送机的顶部放置有若干均匀分布的夹持机构，检测箱的内部一端设有检测机构，检测箱的内部另一端设有两个转运机构，检测箱的外部两侧底端均固定有第二输送机，两个第二输送机的一端底部均设置有集料箱；所述转运机构包括开设在检测箱两侧的转运槽，两个转运槽之间贯穿连接有转运座，转运座的底部和两侧均设有开口，转运座的内部固定有移动座；解决了现有技术中，在对芯片进行检测后，需要人工对不合格的芯片进行筛选，增加生产时间，同时对于芯片的检测过程检测头容易与芯片发生碰撞，造成芯片的损伤等问题。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种集成电路芯片检测装置。

背景技术

中国专利公开了芯片检测装置(公开号：CN111495770A)，该专利包括基台、真空罩、控制系统、抽真空系统和变温系统，所述控制系统包括设置于所述基台上的主控板，所述主控板包括检测区，在所述检测区内设置有用于插接待检测芯片的芯片插座，所述真空罩下端具有开口、设置为能够罩在所述检测区上并与所述检测区共同限定出密封检测空间，所述抽真空系统能够连通于所述密封检测空间并对所述密封检测空间实施抽真空，所述变温系统设置于所述密封检测空间内以用于改变所述待检测芯片的温度。在所述芯片检测装置中，通过变温系统来改变所述密封检测空间内的温度，进行芯片性能检测，真实模拟出芯片可能有的工作温度环境，提高芯片检测的准确性。

上述专利中，在对芯片进行检测后，需要人工对不合格的芯片进行筛选，增加生产时间，同时对于芯片的检测过程检测头容易与芯片发生碰撞，造成芯片的损伤。

为了解决上述缺陷，现提供一种技术方案。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路芯片检测装置。

本实用新型所要解决的技术问题如下：

现有技术中，在对芯片进行检测后，需要人工对不合格的芯片进行筛选，增加生产时间，同时对于芯片的检测过程检测头容易与芯片发生碰撞，造成芯片的损伤。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

一种集成电路芯片检测装置，包括检测箱，所述检测箱的两端均贯穿设有第一输送机，第一输送机的顶部放置有若干均匀分布的夹持机构，检测箱的内部一端设有检测机构，检测箱的内部另一端设有两个转运机构，检测箱的外部两侧底端均固定有第二输送机，两个第二输送机的一端底部均设置有集料箱；

所述转运机构包括开设在检测箱两侧的转运槽，两个转运槽之间贯穿连接有转运座，转运座的底部和两侧均设有开口，转运座的内部固定有移动座，移动座的外表面滑动套设有移动板，移动板的底部固定有负压吸盘，移动座内设有带动移动板移动的驱动组件，检测箱的顶部固定有升降气缸，升降气缸的输出端穿过检测箱且与转运座相固定。

进一步的，所述第一输送机和第二输送机结构相同，第一输送机包括与检测箱相固定的输送台，输送台的内表面两端均转动连接有驱动轮，两个驱动轮之间安装有输送皮带，输送台的一端固定有输送电机，输送电机的输出端穿过输送台且与驱动轮相固定。

进一步的，所述夹持机构包括夹持座，夹持座放置在第一输送机上，夹持座的顶部设有夹持槽，夹持座的外部两端均固定有夹持气缸，夹持气缸的输出端穿过夹持座且固定有夹持板。

进一步的，所述检测机构包括两个对称分布的且与检测箱固定连接的滑杆，两个滑杆的外表面均滑动套设有升降板，两个升降板之间固定有检测座，检测座的底部安装有若干检测头，检测箱的顶部固定有检测气缸，检测气缸的输出端穿过检测箱且固定有推板。

进一步的，所述滑杆的外表面套设有缓冲弹簧，滑杆的底端固定有限位板，缓冲弹簧的两端分别与升降板和限位板相固定。