[实用新型]一种防崩片芯片翻膜装置有效
申请号: | 202222532908.X | 申请日: | 2022-09-25 |
公开(公告)号: | CN218482204U | 公开(公告)日: | 2023-02-14 |
发明(设计)人: | 章晓红 | 申请(专利权)人: | 江苏东海半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 无锡风创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32461 | 代理人: | 徐杰成 |
地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及芯片翻膜用具技术领域,具体为一种防崩片芯片翻膜装置,包括芯片翻膜装置主体,所述芯片翻膜装置主体的顶部设有第一安装凹槽,所述第一安装凹槽的中心处安装有按压握柄,所述第一安装凹槽的内部并位于按压握柄的右侧安装有辨识卡插座,所述芯片翻膜装置主体的底端设有第二安装凹槽,所述第二安装凹槽内壁顶端的外沿安装有弹簧伸缩杆,所述弹簧伸缩杆的底端安装有伸缩压座,所述芯片翻膜装置主体的底端外沿嵌入安装有防滑垫,整体装置结构简单,具有伸缩式压紧结构和防滑罩设撕拉结构,方便双效压紧用于芯片防崩片翻膜去除,避免造成芯片碎角崩边,方便好用,且稳定性和实用性较高,具有一定的推广价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 防崩片 芯片 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造