[实用新型]一种自动测量磨削后单晶边长的装置有效
申请号: | 202221625633.8 | 申请日: | 2022-06-27 |
公开(公告)号: | CN218341807U | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
发明(设计)人: | 赵伟;梁志慧;李喜珍;贡艺强 | 申请(专利权)人: | 内蒙古中环晶体材料有限公司 |
主分类号: | B24B49/04 | 分类号: | B24B49/04 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 010070 内蒙古自*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | 本实用新型提供一种自动测量磨削后单晶边长的装置,包括检测台、第一驱动装置、机械臂、探针组件,所述检测台用于放置所述待测单晶,所述测量装置对称设置在所述检测台两侧,所述第一驱动装置一端与所述检测台一侧连接,另外一端上方设有立柱,所述第一驱动装置可带动所述立柱水平移动,所述机械臂设置在所述立柱靠近所述检测台的一侧,所述探针组件设置在所述机械臂远离所述立柱的一端。本实用新型的有益效果是提高了磨削后单晶边长的测量精度,提升了工作效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 自动 测量 磨削 后单晶 边长 装置 | ||
【主权项】:
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