[实用新型]一种半导体测试治具有效
| 申请号： | 202220849888.6 | 申请日： | 2022-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN217225257U | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 周颖;邵勇;张效;邵天 | 申请（专利权）人： | 和鑫电子科技（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | B25B11/00 | 分类号： | B25B11/00 |
| 代理公司： | 合肥上博知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34188 | 代理人： | 周超 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市自贸区南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种半导体测试治具，包括固定板，固定板的内部中间固定连接有双向同步电机，固定板的两侧中间均转动连接有转轮，转轮的两侧均转动连接有齿轮，齿轮相对一侧中间均固定连接有连接柱，连接柱的两端侧壁分别均匀的设置有固定块与连接块，与现有技术相比，本实用新型的有益效果包括：通过伺服电机运转便于控制其中一端的限位块进行移动，配合另一端的限位块便于调节半导体夹持限位的位置，同时便于对不同规格的半导体进行限位夹持，便于调节限位固定，便于调节使用进行测试；通过双向同步电机运转便于同时控制两个连接柱进行转动，便于对夹持的半导体进行同时转动调节，便于有序、持续的进行转动调节测试，便于提升测试效率与效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 | ||
【主权项】：
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