[实用新型]用于分离芯片和膜的分离机构有效
申请号: | 202220698192.8 | 申请日: | 2022-03-28 |
公开(公告)号: | CN216957989U | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 白生祥 | 申请(专利权)人: | 江苏长电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260 | 代理人: | 朱林军 |
地址: | 214400 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种用于分离芯片和膜的分离机构,包括具有空腔的真空吸附件,真空吸附件的上端具有凸部,凸部上具有多个间隔设置的剥离孔,剥离孔与空腔连通,凸部用于支撑上端面粘有芯片的膜,当空腔产生负压时,与剥离孔对应的膜发生曲状变形并嵌入剥离孔,实现膜与芯片的剥离。本申请的分离机构不使用顶针,由凸部上的剥离孔实现芯片与膜的分离。相对于顶针顶起式剥离而言:节省了顶针和升降元件,有效的降低了装片工序的生产成本;减少了因为顶针冲击芯片底部造成的损伤面风险;由于不需要使用顶针,在改机更换产品时可提升升降调试的效率。 | ||
搜索关键词: | 用于 分离 芯片 机构 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造