[实用新型]MEMS压力芯片测试治具有效
申请号: | 202220502694.9 | 申请日: | 2022-03-09 |
公开(公告)号: | CN216846695U | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 黄灿彰;吴晓东 | 申请(专利权)人: | 西人马联合测控(泉州)科技有限公司 |
主分类号: | G01L25/00 | 分类号: | G01L25/00;G01L27/00 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 马吉兰 |
地址: | 362012 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型涉及半导体器件测试技术领域,具体涉及一种MEMS压力芯片测试治具。MEMS压力芯片测试治具包括:气仓,具有腔体及分别与腔体连通的进气口、安装口,进气口用于与第一压力气源连通;管座,设置在安装口处并包括基板和多个导电针,多个导电针设置在基板上,基板朝向进气口的一侧设有待测试的MEMS压力芯片,待测试的MEMS压力芯片与导电针电连接;密封件,可拆卸地连接在气仓上并密封腔体。本实用新型的MEMS压力芯片测试治具的通用性强,可以满足各种类型芯片的测试,测试的温度范围、压力范围广,且仅通过气仓、管座及密封件实现压力芯片的压力、温度测试,结构简单,使用方便。 | ||
搜索关键词: | mems 压力 芯片 测试 | ||
【主权项】:
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