[实用新型]MEMS压力芯片测试治具有效

专利信息
申请号: 202220502694.9 申请日: 2022-03-09
公开(公告)号: CN216846695U 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 黄灿彰;吴晓东 申请(专利权)人: 西人马联合测控(泉州)科技有限公司
主分类号: G01L25/00 分类号: G01L25/00;G01L27/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 马吉兰
地址: 362012 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型涉及半导体器件测试技术领域,具体涉及一种MEMS压力芯片测试治具。MEMS压力芯片测试治具包括:气仓,具有腔体及分别与腔体连通的进气口、安装口,进气口用于与第一压力气源连通;管座,设置在安装口处并包括基板和多个导电针,多个导电针设置在基板上,基板朝向进气口的一侧设有待测试的MEMS压力芯片,待测试的MEMS压力芯片与导电针电连接;密封件,可拆卸地连接在气仓上并密封腔体。本实用新型的MEMS压力芯片测试治具的通用性强,可以满足各种类型芯片的测试,测试的温度范围、压力范围广,且仅通过气仓、管座及密封件实现压力芯片的压力、温度测试,结构简单,使用方便。
搜索关键词: mems 压力 芯片 测试
【主权项】:
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