[实用新型]一种半导体制冷片检测装置有效
申请号: | 202220473543.5 | 申请日: | 2022-03-07 |
公开(公告)号: | CN217034141U | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 张金良 | 申请(专利权)人: | 江苏星河电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04;G01R1/02 |
代理公司: | 宿迁市永泰睿博知识产权代理事务所(普通合伙) 32264 | 代理人: | 孙丽丽 |
地址: | 223800 江苏省宿迁市宿迁经*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体制冷片检测装置,包括支撑柱、工作台和背板,支撑柱的顶端固定有工作台,工作台顶端的一侧固定有背板,背板的一侧设置有调节结构,且调节结构的一侧设置有显示屏,工作台的顶端均设置有固定结构,且固定结构的顶端设置有检测总成,检测总成的外侧设置有防护结构。本实用新型通过按压连接柱进入卡槽的内部,拉动卡槽调节显示屏的位置,通过连接柱卡入外壳的孔洞将卡槽固定在外壳的内部,通过第二铰接座与第一铰接座调节显示屏的角度,使工作人员便于观看,由此实现了此装置的位置调节功能,便于多个方位的调节显示屏的位置,使工作人员便于查看显示屏,提高了此装置的功能性。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 制冷 检测 装置 | ||
【主权项】:
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