[实用新型]一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置有效
| 申请号： | 202220291884.0 | 申请日： | 2022-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN217675332U | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 杨密凯 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/74 | 分类号： | B65G47/74 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,包含升降机构、定位机构与进料机构，所述的定位机构设置在所述升降机构的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘，所述的进料机构设置在所述升降机构的下端,用于装卸芯片料盘，所述的升降机构用于运送所述的芯片料盘，本实用新型为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，本技术方案有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片的测试效率还为企业节约了大量的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 自动化 存储 芯片 测试 上下 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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