[实用新型]一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置

说明书

本实用新型公开了一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,包含升降机构、定位机构与进料机构，所述的定位机构设置在所述升降机构的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘，所述的进料机构设置在所述升降机构的下端,用于装卸芯片料盘，所述的升降机构用于运送所述的芯片料盘，本实用新型为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，本技术方案有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片的测试效率还为企业节约了大量的成本。

技术领域

本实用新型涉及一种存储芯片测试技术领域，特别是涉及一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。

现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。

而自动化存储芯片上下料技术是实现存储芯片自动化测试的关键技术,自动化存储芯片上下料技术可以有效的减少人力的投入，不但能实现芯片测试的效率还可为企业节约大量的成本。存储芯片只有采用自动化的测试才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本、以及提高企业的核心竞争力。

实用新型内容

针对以上现有技术的不足，本实用新型公开了一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,本技术方案包含升降机构、定位机构与进料机构，三个机构组合在一起可以实现存储芯片的自动化上下料，本技术方案具体如下：

一种用于自动化存储芯片测试的上下料装置,包含升降机构、定位机构与进料机构。

本技术方案具体来说，所述的定位机构设置在所述升降机构的上端,用于定位目标工作位以及置放芯片料盘；所述的进料机构设置在所述升降机构的下端,用于装卸芯片料盘;所述的升降机构用于运送所述的芯片料盘。

进一步地, 所述的升降机构包含竖直设置的支撑板、驱动电机、被所述的驱动电机驱动的丝杆滑轨、以及第一滑动件。

在更优的技术方案中，所述的第一滑动件为两个，分别竖直设置在所述支撑板靠近两竖直边处的一面上；所述的丝杆滑轨竖直设置在所述支撑板设置有所述第一滑动件一面的中间位置。

本技术方案中的驱动电机设置在所述支撑板的另一面。需要指出的是，所述的驱动电机与所述的丝杆滑轨皮带传动或齿轮传动。

进一步地,所述的升降机构还包含可升降的托盘。所述的托盘包含连接座与第一承托板，所述的第一承托板的一端固定在所述的连接座上。

进一步地,所述的连接座的中间部分螺纹连接所述的丝杆滑轨，所述的连接座的两端分别滑动连接两个所述的第一滑动件。

进一步地,所述的进料机构包固定板与滑动仓，所述的固定板上设置有第二滑动件，所述的滑动仓与所述的固定板通过所述的第二滑动件滑动连接。

进一步地,所述的第一滑动件为导轨或滑槽，所述的第二滑动件为导轨或滑槽。

进一步地,所述的滑动仓由底板、竖直设置在所述底板外端的推拉板、以及四根分别竖直设置在所述底板四角的第一定位柱组成。

进一步地,所述的定位机构包含定位板，所述的定位板开设有方形缺口，所述的定位机构还包含第二承托板与第二定位柱。