[实用新型]一种电子产品老化试验测控系统有效
| 申请号： | 202220192205.4 | 申请日： | 2022-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN217060792U | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | 刘洪平;沈建文;胡云梅;奎晓燕;金磊;赵越;刘科曼;高赟;刘小建;马阳 | 申请（专利权）人： | 云南昆船电子设备有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650000 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子产品老化试验测控系统，包括上位机、控制单元和采集单元，控制单元和采集单元均与被试产品通讯连接，采集单元包括：MCU、电源高边检测单元、模拟信号调理单元、比较器和AD采集单元，电源高边检测单元和模拟信号调理单元与AD采集单元连接，比较器和AD采集单元与MCU连接，MCU与控制单元通讯连接；该系统通过电源高边检测单元、模拟信号调理单元和比较器实现对被试产品的电流、电压、频率和相位的实时采集，能够提高产品老化试验的效率、节约人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 老化试验 测控 系统 | ||
【主权项】：
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