[实用新型]一种电子产品老化试验测控系统

说明书

本实用新型公开了一种电子产品老化试验测控系统，包括上位机、控制单元和采集单元，控制单元和采集单元均与被试产品通讯连接，采集单元包括：MCU、电源高边检测单元、模拟信号调理单元、比较器和AD采集单元，电源高边检测单元和模拟信号调理单元与AD采集单元连接，比较器和AD采集单元与MCU连接，MCU与控制单元通讯连接；该系统通过电源高边检测单元、模拟信号调理单元和比较器实现对被试产品的电流、电压、频率和相位的实时采集，能够提高产品老化试验的效率、节约人力成本。

技术领域

本实用新型涉及老化试验设备技术领域，具体涉及一种电子产品老化试验测控系统。

背景技术

随着科学的进步，电子制造技术也越来越发达，其集成化程度是越来越高，工序越来越多，结构也越来越细微，制造工艺越来越复杂，错综复杂的因素势必会导致在制造过程中潜伏缺陷。因此，电子产品，不管是元件，部件，整机，设备，都要进行老化试验，目前多采用间歇式测量、手动操作及记录，但老化试验时间长(连续48小时)，这就导致老化试验效率低，操作人员劳动强度大等问题。

实用新型内容

针对上述问题，发明人提供了一种电子产品老化试验测控系统，实现了对被试电子产品老化试验过程中的性能数据的实时采集，能够提高产品老化试验的效率、节约人力成本。

具体地，本实用新型是这样实现的：

一种电子产品老化试验测控系统，包括上位机、控制单元和采集单元，所述控制单元和采集单元均与被试产品通讯连接，所述采集单元包括：MCU、电源高边检测单元、模拟信号调理单元、比较器和AD采集单元，所述电源高边检测单元和模拟信号调理单元与AD采集单元连接，所述比较器和AD采集单元与所述MCU连接，所述MCU与控制单元通讯连接。

进一步地，所述控制单元包括：微控制器、继电器和通讯模块，所述微控制器通过所述继电器与声光报警器连接，所述微控制器通过通讯模块分别与上位机、MCU和被试产品通讯连接。

进一步地，所述通讯模块包括：RS485通讯模块、TCP通讯模块和UDP通讯模块，所述微控制器通过RS485通讯模块与所述MCU连接，所述微控制器通过TCP通讯模块与所述上位机连接，所述微控制器通过UDP通讯模块与被试产品连接。

进一步地，所述被试产品的供电线路上设有固态继电器，所述固态继电器与所述微控制器连接。

进一步地，采集单元还包括EEPROM，所述EEPROM与MCU连接。

进一步地，所述上位机连接有语音播报模块。

工作原理：

上位机将测试指令下发至控制单元，控制单元再下发指令至被试产品，随后被试产品开始老化试验，在试验过程中，利用电流高边检测单元对电流进行检测，并将电流信号转换为电压信号，再送入AD采集单元进行电压采集；信号调理单元将交流高压信号转换为AD采集单元采集量程范围内的电压值，再送入AD采集单元；AD采集单元将电压信号送入MCU；比较器将模拟信号完整的转换成数字信号；送入MCU进行频率和相位计算。最后将电压、频率和相位经过微控制器上传至上位机进行显示。

相比现有技术，本实用新型的有益效果：

(1)本申请提供的电子产品老化试验测控系统，实现了对被试电子产品老化试验过程中的电流、电压、频率和相位的自动实时采集，能够提高产品老化试验的效率，降低员工劳动强度。

(2)控制单元连接有声光报警器，当采集到的数据异常时，可通过声光报警器进行报警，能够尽早发现被试产品的故障。

(3)被试产品的供电线路上设有固态继电器，当采集到的电流或电压异常时，可通过断开固态继电器将被试产品的电源断开，起到保护产品的作用。

附图说明

图1为本申请提供的电子产品老化试验测控系统的系统框图。