[实用新型]一种微波器件老化试验装置有效
| 申请号： | 201520643736.0 | 申请日： | 2015-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN204903710U | 公开（公告）日： | 2015-12-23 |
| 发明（设计）人： | 邱云峰;杜勇 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人： | 商小川 |
| 地址： | 550009 *** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种微波器件老化试验装置，它包括老化试验板（5），微波信号源（3）与功率放大器（4）连接，功率放大器（4）与老化试验板（5）连接，老化试验板（5）与微波开关箱（7）连接，微波开关箱（7）与功率计（8）连接；本实用新型利用常用的微波测量设备构建试验装置解决了微波器件老化试验问题，解决了现有技术没有专门的微波老化试验设备针对单片微波集成电路进行老化试验，导致的大多数微波器件老化试验无法开展，从而无法充分地评价器件的可靠性等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 器件 老化 试验装置 | ||
【主权项】：
一种微波器件老化试验装置，它包括老化试验板（5），其特征在于：微波信号源（3）与功率放大器（4）连接，功率放大器（4）与老化试验板（5）连接，老化试验板（5）与微波开关箱（7）连接，微波开关箱（7）与功率计（8）连接。
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