[发明专利]基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202211739088.X | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN115984398A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 严冬梅;杨永;李兵;傅建伟;杨美丽 | 申请（专利权）人： | 武汉联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;G06T7/80 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 罗朗;林嵩 |
| 地址： | 430206 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质。该基物质质量衰减系数获取方法通过获取包含不同密度的目标基物质的预设标定模体在目标能量区间下衰减特征值，基于预设标定模体的衰减特征值和不同预设标定模体中目标基物质的密度计算目标基物质的质量衰减系数。本公开基于获取目标基物质准确的质量衰减系数，可以针对待分解物构建物质分解矩阵，基于物质分解矩阵对待分解物对应的目标图像进行分解，获取目标基物质对应的密度图像。 | ||
| 搜索关键词： | 物质 质量 衰减系数 获取 方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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