[发明专利]基物质质量衰减系数获取方法、系统、电子设备及介质

权利要求书

1.一种基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，所述基物质质量衰减系数获取方法包括：

获取至少两个预设标定模体；其中，所述预设标定模体包括目标基物质，不同的所述预设标定模体中所述目标基物质的密度不同；

分别获取每个所述预设标定模体对应目标能量区间的衰减特征值；

基于所述预设标定模体的所述衰减特征值和所述目标基物质的密度，获取所述目标基物质对应所述目标能量区间的质量衰减系数。

2.根据权利要求1述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，所述预设标定模体还包括背景物质；

所述获取所述目标基物质对应所述目标能量区间的质量衰减系数的步骤还包括：

基于不同所述预设标定模体的所述衰减特征值与所述目标基物质的密度、所述背景物质的密度的关系构建目标方程组；其中，所述衰减特征值为所述目标基物质的线性衰减系数与所述背景物质的线性衰减系数之和；所述目标基物质的线性衰减系数为所述目标基物质的密度与所述目标基物质的质量衰减系数的乘积，所述背景物质的线性衰减系数为所述背景物质的密度与所述背景物质的质量衰减系数的乘积；

基于所述目标方程组获取所述目标基物质的质量衰减系数。

3.根据权利要求2所述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，对于不同的所述预设标定模体，若所述背景物质的密度相同，

所述基于所述目标方程组获取所述目标基物质的质量衰减系数的步骤还包括：

使用不同所述预设标定模体的所述衰减特征值与所述预设标定模体包含的所述目标基物质的密度，基于所述目标方程组进行最小二乘线性拟合，得到第一拟合关系；

基于所述第一拟合关系确定所述目标基物质的质量衰减系数。

4.根据权利要求2所述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，对于不同的所述预设标定模体，若所述背景物质按照预设稀释倍数被稀释后的密度不同，

所述基于所述目标方程组获取所述目标基物质的质量衰减系数的步骤包括：

使用不同所述预设标定模体的所述衰减特征值、所述预设标定模体包含的所述目标基物质的密度及所述预设稀释倍数，基于所述目标方程组进行最小二乘线性拟合，得到第二拟合关系；

基于所述第二拟合关系确定所述目标基物质的质量衰减系数。

5.根据权利要求1所述的基物质质量衰减系数获取方法，其特征在于，所述衰减特征值为线性衰减系数或CT值。

6.一种成像方法，其特征在于，所述成像方法包括：

根据权利要求1-5中任一项所述的基物质质量衰减系数获取方法，获取待分解物中目标基物质对应目标能量区间的质量衰减系数；

基于所述目标基物质的所述质量衰减系数构建物质分解矩阵；

基于所述物质分解矩阵对目标图像进行分解，以获取所述目标基物质对应的密度图像；其中，所述目标图像为待分解物对应所述目标能量区间的能谱成像图。

7.一种基物质质量衰减系数获取系统，其特征在于，所述基物质质量衰减系数获取系统包括：

模体获取模块，用于获取至少两个预设标定模体；其中，所述预设标定模体包括目标基物质，不同的所述预设标定模体中所述目标基物质的密度不同；

特征值获取模块，用于获取所述预设标定模体对应目标能量区间的衰减特征值；

第一衰减系数获取模块，用于基于所述预设标定模体的所述衰减特征值和所述目标基物质的密度，获取所述目标基物质对应所述目标能量区间的质量衰减系数。

8.一种成像系统，其特征在于，所述成像系统包括：

第二衰减系数获取模块，用于根据权利要求7所述的基物质质量衰减系数获取系统，获取待分解物中目标基物质对应目标能量区间的质量衰减系数；

分解矩阵构建模块，用于基于所述目标基物质的所述质量衰减系数构建物质分解矩阵；

物质分解模块，用于基于所述物质分解矩阵对目标图像进行分解，以获取所述目标基物质对应的密度图像；其中，所述目标图像为待分解物对应所述目标能量区间的能谱成像图。