[发明专利]一种重离子注入型集成超结器件及制造方法在审

专利信息
申请号: 202211736214.6 申请日: 2022-12-30
公开(公告)号: CN115985938A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 章文通;刘雨婷;吴凌颖;郭新凯;孙燕;乔明;李肇基;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/336;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/739;H01L21/331;H01L21/329;H01L21/265
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 敖欢
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种重离子注入型集成超结器件及制造方法,包括:第一导电类型半导体衬底、第二导电类型漂移区、第一导电类型阱区、第一导电类型埋层和第二导电类型埋层,位于器件表面的多晶硅栅电极,第一介质氧化层、第二介质氧化层,亚微米超结位于第一导电类型埋层和第二导电类型埋层之间,在埋层注入后采用重离子注入并透过场氧化层形成;本发明基于重离子与轻离子的扩散系数不同,通过在漂移区内引入重离子注入的亚微米超结,能够在器件内部提供低阻通路,降低开态时的比导通电阻,且不受高温推结工艺的影响;此外通过优化热预算,能够形成扩散保护环,降低器件表面电场。
搜索关键词: 一种 离子 注入 集成 器件 制造 方法
【主权项】:
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