[发明专利]基于并排结构的双能探测器在审
| 申请号： | 202211636329.8 | 申请日： | 2022-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN115855981A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 施利辉;幸波 | 申请（专利权）人： | 上海太易检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/083;G01T1/202;G01T1/36 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 蔡彭君 |
| 地址： | 201108 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于并排结构的双能探测器，包括探测器基准PCB板、低能探测单元、高能探测单元、高能低能分隔层和低能滤波片，低能探测单元和高能探测单元并排设置于探测器基准PCB板上，高能低能分隔层设于低能探测单元和高能探测单元之间，且高能低能分隔层的高度高于低能探测单元和高能探测单元，低能滤波片固定于高能低能分隔层上，且低能滤波片位于探测器基准PCB板上的投影完全覆盖高能探测单元的所在区域，并与低能探测单元所在区域无交集。与现有技术相比，本发明具有提供无需后期像素校准的单板双能检测方案等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 并排 结构 探测器 | ||
【主权项】：
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