[发明专利]集成电路芯片的设计方法及设计装置、存储介质在审

专利信息
申请号: 202211624699.X 申请日: 2022-12-16
公开(公告)号: CN115935889A 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 安顺;李重阳;宋紫敏 申请(专利权)人: 海光信息技术股份有限公司
主分类号: G06F30/392 分类号: G06F30/392;G06F30/394;G06F30/398
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 300392 天津市华苑产业区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种集成电路芯片的设计方法以及设计装置、存储介质,该设计方法包括:在集成电路芯片的设计模型中确定有源区注入点位置;建立对应于有源区注入点位置的有源区注入点标识区域;基于有源区注入点标识区域确定需要进行闩锁验证的至少一个模块,对至少一个模块进行闩锁验证;响应于对至少一个模块进行闩锁验证且都验证成功,拼接集成电路芯片的设计模型中的各个模块;对整个集成电路芯片进行闩锁验证。该方法可以提高集成电路芯片的设计效率。
搜索关键词: 集成电路 芯片 设计 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
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