[发明专利]波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质在审
| 申请号： | 202211564777.1 | 申请日： | 2022-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN116413297A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 胡学强;刘明博;袁良经;刘鑫宇;倪子月 | 申请（专利权）人： | 钢铁研究总院有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 吴英杰 |
| 地址： | 100089 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质，方法基于波长色散X荧光光谱仪，获取实验样品的晶体支架理论转动角度和探测器支架理论转动角度；对实验样品进行双扫描，使第一探测器接收分光后的X射线，得到实验样品的晶体支架实际转动角度和探测器支架第一实际转动角度；根据晶体支架理论转动角度和晶体支架实际转动角度即可得到晶体支架实际初始角，结合晶体支架理论初始角，可得到晶体支架偏移角；根据探测器支架理论转动角度和探测器支架第一实际转动角度即可得到探测器支架实际初始角，结合探测器支架理论初始角，可得到探测器支架偏移角。本申请具有对晶体和探测器的角度进行校正，提高光谱仪的精密度的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 色散 荧光 光谱仪 调试 方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
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