[发明专利]波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质

权利要求书

1.一种波长色散X荧光光谱仪调试方法，其特征在于，所述波长色散X荧光光谱仪包括测角仪（1）、驱动模块、两个探测器（2）、探测器支架（3）和晶体支架（4），所述探测器支架（3）和所述晶体支架（4）安装于所述测角仪（1），两个所述探测器（2）包括第一探测器（21）和第二探测器（22），所述第一探测器（21）和所述第二探测器（22）固定于所述探测器支架（3）上，且呈夹角设置；所述驱动模块驱动所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动，使所述晶体支架（4）上的分光晶体分光后的X射线射至所述第一探测器（21）或所述第二探测器（22）；所述波长色散X荧光光谱仪调试方法包括以下步骤：

获取实验样品对应的理论角度：获取实验样品的晶体支架（4）理论转动角度θ_理和探测器支架（3）理论转动角度Dθ_理；

获取实验样品对应的实际转动角度：向驱动模块发送复位信号，所述驱动模块响应所述复位信号，分别控制所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动至初始位置，所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动至初始位置时，向所述驱动模块发送扫描信号，所述驱动模块响应所述扫描信号，分别控制所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动，对所述实验样品进行θ-2θ双扫描，以使所述第一探测器（21）接收分光后的X射线，得到与所述实验样品最大荧光强度对应的晶体支架（4）实际转动角度θ_实转和探测器支架（3）第一实际转动角度Dθ_实转1；以及，

计算测角仪（1）的偏移角：所述晶体支架（4）实际初始角θ_实初=θ_理-θ_实转，则所述晶体支架（4）偏移角θ_偏=θ_理-θ_实转-θ_理初；其中，θ_理初为晶体支架（4）理论初始角；所述探测器支架（3）实际初始角Dθ_实初=Dθ_理-Dθ_实转1，则所述探测器支架（3）偏移角Dθ_偏=Dθ_理-Dθ_实转1-Dθ_理初；其中，Dθ_理初为探测器支架（3）理论初始角。

2.根据权利要求1所述的波长色散X荧光光谱仪调试方法，其特征在于，”计算测角仪（1）的偏移角”的步骤之后还包括：

获取待测样品对应的实际转动角度：向所述驱动模块发送复位信号，所述驱动模块响应所述复位信号，分别控制所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动至初始位置，所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动至初始位置时，向所述驱动模块发送扫描信号，所述驱动模块响应所述扫描信号，分别控制所述晶体支架（4）和所述探测器支架（3）转动，对所述待测样品进行θ-2θ双扫描，得到与所述待测样品最大荧光强度对应的晶体支架（4）实际转动角度Cθ_实转和探测器支架（3）第一实际转动角度CDθ_实转1；

计算待测样品对应的理论转动角度：待测样品的晶体支架（4）理论转动角度Cθ_理=Cθ_实转+θ_理-θ_实转；待测样品的探测器支架（3）的第一理论转动角度CDθ_理1=CDθ_实转1+Dθ_理-Dθ_实转1。