[发明专利]波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质

说明书

本申请涉及一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质，方法基于波长色散X荧光光谱仪，获取实验样品的晶体支架理论转动角度和探测器支架理论转动角度；对实验样品进行双扫描，使第一探测器接收分光后的X射线，得到实验样品的晶体支架实际转动角度和探测器支架第一实际转动角度；根据晶体支架理论转动角度和晶体支架实际转动角度即可得到晶体支架实际初始角，结合晶体支架理论初始角，可得到晶体支架偏移角；根据探测器支架理论转动角度和探测器支架第一实际转动角度即可得到探测器支架实际初始角，结合探测器支架理论初始角，可得到探测器支架偏移角。本申请具有对晶体和探测器的角度进行校正，提高光谱仪的精密度的效果。

技术领域

本申请涉及光谱仪技术领域，尤其是涉及一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质。

背景技术

波长色散X射线荧光光谱法可对多种类型的样品进行测试，前处理简单，是一种多元素定量分析的精密仪器，在冶炼、建材、环境、地质等行业广泛应用。在光谱仪中，X射线光管的功率通常可以达到几千瓦，所发射的X射线强度很大，会对人体健康造成危害，通常应用密封腔室将X射线隔离起来。从样品发射的X射线，在完全满足布拉格方程的条件下会发生衍射，探测器在2θ角度处进行接收，而光路系统就是波长色散X射线荧光光谱仪器中极为重要的系统，系统中每一个部件都需要极为精细的调整和优化，而衍射所需要的晶体和接收信号的探测器所在的测角仪是最为精密的装置，各个光谱仪在制作时无法保证角度的精确性，因此需要对晶体和探测器的角度进行精密调节。

发明内容

为了对晶体和探测器的角度进行校正，提高光谱仪的精密度，本申请提供一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质。

本申请提供的一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质采用如下的技术方案：

第一方面，本申请提供的一种波长色散X荧光光谱仪调试方法，所述波长色散X荧光光谱仪包括测角仪、驱动模块、两个探测器、探测器支架和晶体支架，所述探测器支架和所述晶体支架安装于所述测角仪，两个所述探测器包括第一探测器和第二探测器，所述第一探测器和所述第二探测器固定于所述探测器支架上，且呈夹角设置；所述驱动模块驱动所述晶体支架和所述探测器支架转动，使所述晶体支架上的分光晶体分光后的X射线射至所述第一探测器或所述第二探测器；所述波长色散X荧光光谱仪调试方法包括以下步骤：

获取实验样品对应的理论角度：获取实验样品的晶体支架理论转动角度θ_理和探测器支架理论转动角度Dθ_理；

获取实验样品对应的实际转动角度：向驱动模块发送复位信号，所述驱动模块响应所述复位信号，分别控制所述晶体支架和所述探测器支架转动至初始位置，所述晶体支架和所述探测器支架转动至初始位置时，向所述驱动模块发送扫描信号，所述驱动模块响应所述扫描信号，分别控制所述晶体支架和所述探测器支架转动，对所述实验样品进行θ-2θ双扫描，以使所述第一探测器接收分光后的X射线，得到与所述实验样品最大荧光强度对应的晶体支架实际转动角度θ_实转和探测器支架第一实际转动角度Dθ_实转1；以及，

计算测角仪的偏移角：所述晶体支架实际初始角θ_实初=θ_理-θ_实转，则所述晶体支架偏移角θ_偏=θ_理-θ_实转-θ_理初；其中，θ_理初为晶体支架理论初始角；所述探测器支架实际初始角Dθ_实初=Dθ_理-Dθ_实转1，则所述探测器支架偏移角Dθ_偏= Dθ_理-Dθ_实转1-Dθ_理初；其中，Dθ_理初为探测器支架理论初始角。