[发明专利]边缘位置检测方法及装置在审
| 申请号： | 202211537035.X | 申请日： | 2022-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN115937235A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 徐健;刘耀阳 | 申请（专利权）人： | 上海精积微半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/13 | 分类号： | G06T7/13;G06T7/40 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 吴浩 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种边缘位置检测方法及装置，涉及图像处理技术领域，所述边缘位置检测方法包括：获取目标区域，所述目标区域包含至少两种结构图像和边缘位置；选定至少一种周期性结构为目标结构图像，确定所述目标结构图像呈周期性变化的方向；在沿着所述周期性变化的方向上，依次选取若干周期图像；在所述目标结构图像中选取第一对比图像；对所述第一对比图像进行插值处理，以获取与所述周期图像相位和尺寸均一致的第二对比图像；获取所述周期图像与相对应的所述第二对比图像的归一化互相关结果，以获取所述边缘位置。本发明能够得到两种不同周期性结构边缘或者周期性结构与非周期性结构之间的边缘位置的准确的检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 边缘 位置 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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