[发明专利]确定ITOF模组有效深度值的方法、装置、介质及设备在审
| 申请号： | 202211529724.6 | 申请日： | 2022-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN116030107A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 燕宇 | 申请（专利权）人： | 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/50 | 分类号： | G06T7/50;G06T7/13 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 姚萱萱 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种确定ITOF模组有效深度值的方法、装置、介质及设备，根据各spot点的坐标在ITOF图片中确定对应的目标图像区域；对所述目标图像区域进行解析，获得初始有效深度值；对所述初始有效深度值进行筛选，获得目标有效深度值；如此，先根据spot点的坐标在ITOF图片中确定对应的目标图像区域，只需要对目标图像区域进行解析即能确定出有效深度值，无需计算出所有像素点的深度值，因此可大幅降低计算负担，提高有效深度值的获取效率。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 itof 模组 有效 深度 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
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