[发明专利]用于产生全速扫描测试时钟信号的方法及系统有效
| 申请号： | 202211508669.2 | 申请日： | 2022-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN115542140B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 张云鹏;林琳;许江;李炜 | 申请（专利权）人： | 深圳市爱普特微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;H03K5/135 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 车大莹;郭伟刚 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于产生全速扫描测试时钟信号的方法，包括检测测试信号；基于测试信号，生成包括多个传递时钟、发射时钟和捕获时钟的测试时钟信号，传递时钟、发射时钟和捕获时钟的周期相同，根据周期和待测试芯片所需的高频时钟频率调整测试时钟信号的发射时钟和捕获时钟的上升沿或下降沿。本发明时钟传递阶段、发射阶段和捕获阶段的时钟周期相同，只是对测试时钟信号发射阶段和捕获阶段的波形的上升沿或下降沿的时间点进行调整，从而使芯片在捕获阶段可以接收到所需的高频时钟频率信号；因此，可以通过波形控制达到输出高频的目的，省去芯片额外的OCC电路结构，节约芯片面积。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 产生 全速 扫描 测试 时钟 信号 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市爱普特微电子有限公司，未经深圳市爱普特微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211508669.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
