[发明专利]用于产生全速扫描测试时钟信号的方法及系统

权利要求书

1.一种用于产生全速扫描测试时钟信号的方法，其特征在于，包括以下步骤：

检测测试信号；

基于所述测试信号，生成测试时钟信号，所述测试时钟信号包括多个传递时钟、发射时钟和捕获时钟，所述传递时钟、所述发射时钟和所述捕获时钟的周期相同，根据所述周期和待测试芯片所需的高频时钟频率调整测试时钟信号的所述发射时钟和所述捕获时钟的上升沿或下降沿；

所述周期、所述高频时钟频率和所述发射时钟和所述捕获时钟的上升沿满足以下关系：N-A+B＝1/f，其中，N为传递时钟的周期，A为发射时钟的波形起点到上升沿的时间，B为捕获时钟的波形起点到上升沿的时间，f为待测试芯片所需的高频时钟频率；或所述周期、所述高频时钟频率和所述发射时钟和所述捕获时钟的下降沿满足以下关系：N-C+D＝1/f，其中，N为传递时钟的周期，C为发射时钟的波形起点到下降沿的时间，D为捕获时钟的波形起点到下降沿的时间，f为待测试芯片所需的高频时钟频率。

2.根据权利要求1所述的用于产生全速扫描测试时钟信号的方法，其特征在于，所述测试信号为扫描使能信号。

3.根据权利要求2所述的用于产生全速扫描测试时钟信号的方法，其特征在于，所述扫描使能信号为高电平时，输出周期为N的多个传递时钟；所述扫描使能信号为低电平时，输出所述发射时钟和所述捕获时钟。

4.一种用于产生全速扫描测试时钟信号的系统，其特征在于，包括：

检测模块，检测测试信号；

测试时钟信号生成模块，用于基于所述测试信号，生成测试时钟信号，所述测试时钟信号包括多个传递时钟、发射时钟和捕获时钟，所述传递时钟、所述发射时钟和所述捕获时钟的周期相同，根据所述周期和待测试芯片所需的高频时钟频率调整测试时钟信号的所述发射时钟和所述捕获时钟的上升沿或下降沿；

所述周期、所述高频时钟频率和所述发射时钟和所述捕获时钟的上升沿满足以下关系：N-A+B＝1/f，其中，N为传递时钟的周期，A为发射时钟的波形起点到上升沿的时间，B为捕获时钟的波形起点到上升沿的时间，f为待测试芯片所需的高频时钟频率；或所述周期、所述高频时钟频率和所述发射时钟和所述捕获时钟的下降沿满足以下关系：N-C+D＝1/f，其中，N为传递时钟的周期，C为发射时钟的波形起点到下降沿的时间，D为捕获时钟的波形起点到下降沿的时间，f为待测试芯片所需的高频时钟频率。

5.根据权利要求4所述的用于产生全速扫描测试时钟信号的系统，其特征在于，所述测试信号为扫描使能信号。

6.根据权利要求5所述的用于产生全速扫描测试时钟信号的系统，其特征在于，所述扫描使能信号为高电平时，输出周期为N的多个传递时钟；所述扫描使能信号为低电平时，输出所述发射时钟和所述捕获时钟。