[发明专利]一种SiP芯片测试系统在审
| 申请号： | 202211492899.4 | 申请日： | 2022-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN115792568A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 宋鸿蕾;候俊马;梁宇宸;刘慧婕 | 申请（专利权）人： | 天津津航计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘瑞东 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种SiP芯片测试系统，属于芯片测试领域。本发明的系统包括上位机以及测试板部分，测试板包括测试底板和测试载板。测试底板包括电源模块、监控模块和测试模块。测试载板安装在测试底板上面，通过专用的接口连接，是可拆卸的，测试载板上安装有测试插座，芯片安装在测试插座上，实现测试。本发明实现对不同SiP芯片的功能测试，提高SiP芯片测试系统的通用性，同时测试系统带有监控模块，可以监控整个测试的有效性，提高测试的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sip 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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