[发明专利]芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片在审
| 申请号： | 202211492319.1 | 申请日： | 2022-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN115981930A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 杨健明;陈焰强;刘浩;张静 | 申请（专利权）人： | 珠海泰芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人： | 杨焕军;朱鹏 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片，涉及芯片测试领域。本申请中数字电路接收预存储的测试序列，数字电路将测试序列进行处理后生成结果序列，然后将结果序列输出到数字验证电路进行验证，根据验证结果向上位机发送该数字电路的测试结果，实现对模拟功能电路中的数字电路进行直接测试，可以对数字电路中所有数字器件进行全面覆盖，提高数字电路测试的覆盖率，以及提高测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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