[发明专利]芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片

说明书

本申请实施例公开了一种芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片，涉及芯片测试领域。本申请中数字电路接收预存储的测试序列，数字电路将测试序列进行处理后生成结果序列，然后将结果序列输出到数字验证电路进行验证，根据验证结果向上位机发送该数字电路的测试结果，实现对模拟功能电路中的数字电路进行直接测试，可以对数字电路中所有数字器件进行全面覆盖，提高数字电路测试的覆盖率，以及提高测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片。

背景技术

随着集成电路的发展，数模混合芯片的应用越来越广泛，数模混合芯片中一般设置有模拟功能电路，模拟功能电路用于输出模拟信号，目前很对模拟功能电路中会设置数字电路，该数字电路用于对模拟功能电路进行数字控制，例如：对特定功能进行编程等。在对模拟功能电路中的数字电路进行可靠性测试，一般会通过观察模拟功能电路输出的模拟信号波形，然而这种间接的测试方法无法对内部的数字电路进行有效覆盖，测试结果可能不准确。

发明内容

本申请实施例提供了芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片，可以解决现有技术中对模拟功能电路中数字电路进行测试存在覆盖率不高和测试结果不准确性的问题。所述技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片的测试方法，所述方法包括：

接收测试指令；

响应于所述测试指令，从存储器中读取预设的测试序列；

向模拟功能电路中数字电路的输入端发送测试序列；其中，所述数字电路对所述测试序列进行处理后向数字验证电路输出结果序列；

通过数字验证电路对所述结果序列进行验证；

根据验证结果向上位机返回所述数字电路的测试结果。

第二方面，本申请实施例提供了一种芯片的测试装置，所述装置包括：

收发单元，用于接收测试指令；

读取单元，用于响应于所述测试指令，从存储器中读取预设的测试序列；

所述收发单元，还用于向模拟功能电路中数字电路的输入端发送测试序列；其中，所述数字电路对所述测试序列进行处理后向数字验证电路输出结果序列；

验证单元，用于通过数字验证电路对所述结果序列进行验证；

所述收发单元，还用于根据验证结果向上位机返回所述数字电路的测试结果。

第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。

第四方面，本申请实施例提供一种芯片，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。

本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

向数字电路输入预存储的测试序列，数字电路将测试序列进行处理后生成结果序列，然后将结果序列输出到数字验证电路进行验证，根据验证结果向上位机发送该数字电路的测试结果，实现对模拟功能电路中的数字电路进行直接测试，可以对数字电路中所有数字器件进行全面覆盖，提高数字电路测试的覆盖率，以及提高测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本申请实施例提供的系统架构示意图；