[发明专利]芯片的测试方法、装置、存储介质及芯片

权利要求书

1.一种芯片的测试方法，其特征在于，包括：

接收测试指令；

响应于所述测试指令，从存储器中读取预设的测试序列；

向模拟功能电路中数字电路的输入端发送测试序列；其中，所述数字电路对所述测试序列进行处理后向数字验证电路输出结果序列；

通过数字验证电路对所述结果序列进行验证；

根据验证结果向上位机返回所述数字电路的测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过数字验证电路对所述结果序列进行验证，包括：

通过所述数字验证电路对所述结果序列进行运算得到第一校验值；

从所述存储器中读取预设的第二校验值；

若所述第一校验值和所述第二校验值相同，则验证结果为通过。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

若所述第一校验值和所述第二校验值不相同，根据预设次数通过数字验证电路对所述结果序列进行重复验证；

若至少一次的验证结果为通过，则最终的验证结果为通过。

4.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述根据验证结果向上位机返回所述模拟功能电路的测试结果，包括：

在验证结果为通过时，向所述上位机发送测试通过消息和模拟功能电路的ID；

在验证结果为不通过时，向所述上位机发送测试通过消息和模拟功能电路的ID。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述接收测试指令，包括：

接收来自上位机的测试指令；或

根据用户的测试操作生成测试指令。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数字验证电路为循环容易校验CRC电路。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在待测试的芯片设置有多个模拟功能电路时，所述多个模拟功能电路对应同一测试序列，以及所述多个模拟功能电路对应同一个数字验证电路。

8.一种芯片的测试装置，其特征在于，包括：

收发单元，用于接收测试指令；

读取单元，用于响应于所述测试指令，从存储器中读取预设的测试序列；

所述收发单元，还用于向模拟功能电路中数字电路的输入端发送测试序列；其中，所述数字电路对所述测试序列进行处理后向数字验证电路输出结果序列；

验证单元，用于通过数字验证电路对所述结果序列进行验证；

所述收发单元，还用于根据验证结果向上位机返回所述数字电路的测试结果。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1～7任意一项的方法步骤。

10.一种芯片，其特征在于，包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1～7任意一项的方法步骤。