[发明专利]杂质的快速检测方法、计算设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211478924.3 | 申请日： | 2022-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN115546207A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 王海燕;张寅升;侯瑞琪 | 申请（专利权）人： | 杭州市富阳区科源食药质量安全工程研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06V10/764;G06V10/82 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 陈超德;吴昊 |
| 地址： | 311400 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种杂质的快速检测方法、计算设备和存储介质，该方法包括：获取包含目标物体的待测图像；将所述待测图像输入图像分割模型，以分割所述待测图像中的目标物体区域与杂质区域，并得到分割后的图像；将所述分割后的图像输入图像分类模型，以确定所述待测图像中杂质区域所包含的杂质类别，将所述待测图像中杂质区域所包含的杂质类别作为混入目标物体中的杂质类别。实现了杂质检测的自动化，避免了人工提取特征的麻烦，并且节省了杂质检测的时间，提高了杂质检测结果的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 杂质 快速 检测 方法 计算 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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