[发明专利]DOE质量检测方法、系统、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211429482.3 | 申请日： | 2022-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN115760750A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 刘祺昌;李东洋;化雪诚;王海彬;户磊 | 申请（专利权）人： | 北京的卢铭视科技有限公司;合肥的卢深视科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/60 |
| 代理公司： | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人： | 张婧 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区学清路*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例涉及机器视觉技术领域，公开了一种DOE质量检测方法、系统、电子设备和存储介质，该方法包括：在获取到的散斑图的各级次的衍射区域中选取若干个基准点，根据各级次的衍射区域中的基准点，确定各级次的衍射区域的倾斜程度信息；根据所述各级次的衍射区域的倾斜程度信息，确定所述散斑图的倾斜程度信息；在散斑图的倾斜程度信息不满足预设标准的情况下，确定待测相机的DOE质量不合格，从而严格把控出厂的结构光相机的质量，提升出厂相机的深度恢复精度。 | ||
| 搜索关键词： | doe 质量 检测 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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