[发明专利]一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202211423294.X 申请日: 2022-11-15
公开(公告)号: CN115774209A 公开(公告)日: 2023-03-10
发明(设计)人: 刘作斌;李生草;倪政平;刘维新 申请(专利权)人: 福建星云电子股份有限公司
主分类号: G01R31/385 分类号: G01R31/385;G01R31/367
代理公司: 福州市京华专利代理事务所(普通合伙) 35212 代理人: 林燕
地址: 350000 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供了电芯DCI R测试技术领域的一种电芯DCI R测试方法、系统、设备及介质,方法包括如下步骤:步骤S10、上位机配置DC I R测试工步,并将所述DCI R测试工步发送给中位机;步骤S20、中位机解析接收的所述DC I R测试工步,得到测试参数并发送给下位机;步骤S30、下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换;步骤S40、中位机基于所述DCI R测试工步从下位机采集充放电数据,基于所述充放电数据计算DC I R值。本发明的优点在于:极大的提升了DCI R测试精度。
搜索关键词: 一种 dcir 测试 方法 系统 设备 介质
【主权项】:
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