[发明专利]一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质

权利要求书

1.一种电芯DCIR测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤S10、上位机配置DCIR测试工步，并将所述DCIR测试工步发送给中位机；

步骤S20、中位机解析接收的所述DCIR测试工步，得到测试参数并发送给下位机；

步骤S30、下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换；

步骤S40、中位机基于所述DCIR测试工步从下位机采集充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值。

2.如权利要求1所述的一种电芯DCIR测试方法，其特征在于：所述步骤S10中，所述DCIR测试工步包括第一工步和第二工步；所述第一工步执行完成之后执行第二工步；

所述第一工步具体为：以电流I₁控制电芯进行时长为T_r1的充放电，并在时长为T_c1时进行采样；所述T_r1大于T_c1；

所述第二工步具体为：以电流I₂控制电芯进行时长为T_r2的充放电，并在时长为T_c2时进行采样；所述T_r2大于T_c2。

3.如权利要求2所述的一种电芯DCIR测试方法，其特征在于：所述步骤S20中，所述测试参数包括I₁、T_r1、I₂、T_r2以及对应的工步。

4.如权利要求2所述的一种电芯DCIR测试方法，其特征在于：所述步骤S40具体为：

中位机基于所述DCIR测试工步，在时长为T_c1时从下位机采集包括电压V_c1和电流I_c1的充放电数据，在时长为T_c2时从下位机采集包括电压V_c2和电流I_c2的充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值：

DCIR＝(V_c1-V_c2)/(I_c1-I_c2)。

5.一种电芯DCIR测试系统，其特征在于：包括如下模块：

DCIR测试工步配置模块，用于上位机配置DCIR测试工步，并将所述DCIR测试工步发送给中位机；

测试参数下发模块，用于中位机解析接收的所述DCIR测试工步，得到测试参数并发送给下位机；

工步执行模块，用于下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换；

DCIR值计算模块，用于中位机基于所述DCIR测试工步从下位机采集充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值。

6.如权利要求5所述的一种电芯DCIR测试系统，其特征在于：所述DCIR测试工步配置模块中，所述DCIR测试工步包括第一工步和第二工步；所述第一工步执行完成之后执行第二工步；

所述第一工步具体为：以电流I₁控制电芯进行时长为T_r1的充放电，并在时长为T_c1时进行采样；所述T_r1大于T_c1；

所述第二工步具体为：以电流I₂控制电芯进行时长为T_r2的充放电，并在时长为T_c2时进行采样；所述T_r2大于T_c2。

7.如权利要求6所述的一种电芯DCIR测试系统，其特征在于：所述测试参数下发模块中，所述测试参数包括I₁、T_r1、I₂、T_r2以及对应的工步。